Mikroskop rentgenowski ZEISS Xradia Versa

Tam, gdzie tradycyjna tomografia opierająca się na jednostopniowym powiększeniu geometrycznym staje się niewystarczająca, mikroskop rentgenowski ZEISS Xradia Versa oferuje rozszerzenie o unikalną dwustopniową optykę powiększającą i źródło promieniowania rentgenowskiego o wysokiej wydajności, w celu uzyskania szybszego obrazowania w rozdzielczości poniżej mikrona. Architektura "rozdzielczości w odległości" (RaaD) umożliwia obrazowanie 3D w wysokiej rozdzielczości większych, gęstszych obiektów, w tym nienaruszonych komponentów i urządzeń. Opcjonalne rozszerzenie o płaski panel (FPX) umożliwia szybkie skanowanie bardzo dużych próbek (do 25 kg), udostępniając możliwość nawigacji do wewnętrznych obszarów badanej próbki, z celu odnalezienia obszarów zainteresowania.

Zalety mikroskopu ZEISS Xradia Versa

Usuń ograniczenia mikro- i nano- tomografii komputerowej:

• Nieniszcząca mikroskopia w skali submikronowej nienaruszonych próbek
• Większy strumień i szybsze skanowanie bez utraty rozdzielczości
• Prawdziwa rozdzielczość przestrzenna 500 nm z minimalnym osiągalnym rozmiarem woksela 40 nm
• Wysoka rozdzielczość dla szerokiego zakresu typów próbek, rozmiarów i odległości roboczych
• Obrazowanie in situ do nieniszczącej charakterystyki mikrostruktur w kontrolowanych środowiskach i w przestrzeni czasu
• Możliwość aktualizacji i rozszerzenia o przyszłe innowacje i rozwiązania
• Przepustowość z jakością obrazu

LabDCT

LabDCT (Dyfrakcyjna Tomografia Kontrastowa), dostępna wyłącznie na Xradia 620 Versa, umożliwia nieniszczące mapowanie orientacji i mikrostruktury w 3D. Bezpośrednia wizualizacja krystalograficznej orientacji ziaren 3D otwiera nowy wymiar w charakteryzowaniu materiałów polikrystalicznych, takich jak stopy metali, geomateriały, ceramika czy farmaceutyki.