ZEN core to wszechstronny pakiet oprogramowania do obrazowania mikroskopowego, zautomatyzowanego sterowania mikroskopami ZEISS oraz procesami pracyw laboratoriach materiałowych.
Możesz wykorzystać system obrazowania ZEN core do obsługi rutynowych zadań w różnych systemach mikroskopów i kamer ZEISS. Oprogramowanie ZEN core umożliwia dostęp do wszystkich parametrów i funkcji, które możesz dostosować za pomocą intuicyjnego i łatwego do skonfigurowania interfejsu graficznego. Jednocześnie umożliwia osiągnięcie największej możliwej wydajności technicznej mikroskopów.
Możesz tworzyć panele robocze na potrzeby określonych zadań, aby wyświetlić na ekranie tylko niezbędne funkcje sterowania mikroskopem. Panele robocze można łączyć, aby przygotować zadania przeznaczone dla konkretnego użytkownika. Ułatwia to pracę operatorom poprzez określenie kolejnych czynności i zapewnienie w ten sposób powtarzalności danych w środowisku pracy wielu użytkowników.
Oprogramowanie ZEN core umożliwia zwiększenie wydajności laboratorium, stosując rozwiązania usprawniające proces pracy i infrastrukturę. Łącząc dane z różnych mikroskopów, oprogramowanie ZEN core dostarcza istotnych informacji w formie charakterystyk zawierających dane o różnej skali i z różnych źródeł. Dzięki funkcji łączności z bazami danych możesz w jednym miejscu przechowywać dane z wielu narzędzi, laboratoriów i lokalizacji.
Moduły oprogramowania do mikroskopowej analizy obrazu
Wielkość oraz rozmieszczenie ziarna są bezpośrednio powiązane z właściwościami materiału.
Dokonuj ilościowej oceny struktury krystalograficznej swoich próbek materiałograficznych zgodnie z międzynarodowymi normami. Możesz dokonać charakterystyki materiału za pomocą trzech metod oceny:
- metody planimetrycznej, umożliwiającej automatyczną rekonstrukcję granic ziaren,
- metody przecięcia z wieloma różnymi wzorcami cięciwy do interaktywnego rozpoznawania i zliczania punktów przecięcia z granicami ziaren,
- metody porównawczej do ręcznej oceny obrazu za pomocą diagramów porównawczych.
Obsługiwane normy:
- DIN EN ISO 643:2012
- ASTM E 112-13
- ASTM E 1382-97
- GB/T 6394 2017 Plate I-V
- segmentację obrazu można wykonać w oparciu o najnowsze algorytmy uczenia maszynowego.
Każda część materiału o wyraźnej strukturze krystalicznej może zostać uznana za „fazę”. Różne fazy są oddzielone od siebie wyraźnymi granicami. Rozmieszczenie i orientacja faz wpływają na właściwości materiału, takie jak twardość, wytrzymałość lub wydłużenie przy zerwaniu.
Możesz analizować rozmieszczenie faz w próbkach. W pełni automatycznie i precyzyjnie określisz rozmiar, kształt lub orientację.
Analizę rozmieszczenia możesz wykorzystać do uzyskania informacji o porowatości materiałów wyprodukowanych metodą przyrostową.
W zależności od parametrów procesu i składu chemicznego materiału cząstki grafitu w żeliwie mogą występować w różnych kształtach i miejscach. Ma to wpływ na właściwości mechaniczne materiału.
Masz możliwość przeprowadzania w pełni automatycznej analizy kształtu i wielkości cząstek grafitu.
Uzyskasz informacje o liczbie sferoid zgodnie z normą EN ISO 945-1:2008 i 1:2010. Określisz sferoidalność grafitu wermikularnego i zbadasz zawartość cząstek grafitu poprzez określanie wartości procentowej na danym obszarze.
Zmierzysz grubość powłok lub głębokość utwardzonych powierzchni w przekrojach poprzecznych próbki.
Automatycznie lub interaktywnie ocenisz złożone układy warstw. Moduł oblicza przebieg cięciw pomiarowych w zależności od występującego gradientu.
Wyniki uzyskasz w postaci przejrzystych raportów, zawierających obrazy, dane próbki oraz wartości pomiarowe, takie jak maksymalne i minimalne długości cięciwy, średnia i odchylenie standardowe.
Obsługiwane normy:
- DIN EN ISO 1463 - 2004
- ASTM B 487 – 2007
Typ i ilość wtrąceń niemetalicznych (NMI) w istotny sposób wpływa na właściwości mechaniczne i fizyczne stali.
Analiza metalograficzna NMI podlega normom przemysłowym, które zostały ujęte w modułowym, konfigurowalnym oprogramowaniu ZEN core. Dzięki temu użytkownik jest szybko i w prosty sposób prowadzony przez proces pracy, generowanie raportu i galerię wtrąceń.
Moduł ZEN do analizy wtrąceń niemetalicznych firmy ZEISS potwierdza, że procesy produkcyjne, poziom i jakość produktu spełniają surowe wymogi w zakresie wykrywania zanieczyszczeń lub wad, które mogłyby spowodować uszkodzenie komponentu lub wpłynąć na jego wytrzymałość na rozciąganie, twardość i zużycie.
Zaawansowane widoki kontrolne i zautomatyzowane wykrywanie osi zniekształceń sprawiają, że analiza jest prosta, intuicyjna i powtarzalna. Dzięki dodatkowej funkcji GxP użytkownicy ZEN core mogą oferować swoim klientom pełną odtwarzalność i integralność danych w analizach NMI. Daje to możliwość kontroli w ramach certyfikacji jakości, co jest szczególnie przydatne dla klientów w branżach podlegających regulacjom.
Obsługiwane normy:
- ASTM E45
- ISO 4967
- JIS G0555
- GB/T 10561
- EN 10247
- SEP 1571
- DIN 50602
Dzięki tej funkcji możesz przekształcić swoje dane w cyfrowe dokumenty. Umożliwia to zestawienie próbki pod mikroskopem z diagramami porównawczymi widocznymi bezpośrednio na ekranie. Możesz wybierać spośród wielu różnych mikrowykresów o określonej charakterystyce. Zmieniają się one stopniowo dla poszczególnych obrazów i mogą odnosić się do wielkości ziarna, wytrącania węglika w stali lub jakości przygotowania próbki.
W tym module dostępny jest również kreator wykresów seryjnych, za pomocą którego możesz opracować własne diagramy porównawcze, np. dotyczące kryteriów zaliczenia/niezaliczenia kontroli jakości lub najlepszych docelowych obrazów przygotowawczych dla poszczególnych mikrostruktur materiału.
Obsługiwane normy:
- Ziarna:
- DIN EN ISO 643:2012
- ASTM E 112-13 Plate I-IV
- GB/T 6394 2017 Plate I-IV
- Grafit:
- EN ISO 945-1: 2008 i 1: 2010
- Wtrącenia niemetaliczne (NMI):
- ASTM E45
- ISO 4967
- GB/T 10561
- EN 10247
- DIN 50602
Segmentacja jest jednym z największych wyzwań dla użytkowników mikroskopów w dzisiejszych czasach. Dzięki segmentacji obrazu przy zastosowaniu uczenia maszynowego można uniknąć błędów i wpływów spowodowanych preferencjami użytkownika.
ZEN Intellesis jest modułem oprogramowania, który służy do wydajnej segmentacji wielowymiarowych obrazów przy użyciu uczenia maszynowego, włącznie z zestawami danych 3D.
Możesz płynnie zintegrować wiele metod obrazowania lub uzyskać doskonałą segmentację każdego pojedynczego obrazu.
Obrazy, które kiedyś wymagały przetwarzania ręcznego, teraz mogą być analizowane automatycznie poprzez nauczenie modułu ZEN Intellesis segmentacji przy użyciu prostego interfejsu graficznego.
Wykorzystaj swoje doświadczenie, aby uczyć oprogramowanie i pozwól ZEN Intellesis wykonywać za Ciebie żmudną segmentację.
Zaoszczędzisz również czas poświęcany na przygotowanie próbek, ponieważ ZEN Intellesis dostosuje się do Twoich metod przygotowywania.
Powtarzalność procesu jest zagwarantowana, ponieważ zapisany program do analizy może być ponownie używany do kolejnych próbek, jak i uczony obsługi nowych.
W jednym miejscu możesz organizować i wizualizować w kontekście różne obrazy mikroskopowe i dane dla tej samej próbki. ZEN Connect umożliwia przeprowadzenie centrycznej analizy próbek dzięki procesom umożliwiającym przejście od szybkiego podglądu do zaawansowanego obrazowania wykorzystującego różne metody. Można zobaczyć korelacje i łatwo nawigować między obrazami w różnych skalach. Można też zapisywać, eksportować i ponownie wykorzystywać zależności między różnymi zestawami informacji w bazie danych klienta (Client Server Database).
ZEN Connect umożliwia również zintegrowane tworzenie raportów w obrębie połączonych obrazów i zestawówn danych.
Interfejs mikroskopii korelacyjnej ZEISS umożliwia płynne przenoszenie próbek pomiędzy różnymi mikroskopami optycznymi i/lub elektronowymi, a następnie szybkie i automatyczne przenoszenie obszarów zainteresowania, aby zgromadzić jak najwięcej danych przy jak najmniejszym wysiłku. Dzięki Shuttle & Find możesz:
- przenosić próbki i dane obrazu pomiędzy systemami mikroskopów optycznych i elektronowych firmy ZEISS,
- automatycznie zmieniać położenie obszarów zainteresowania,
- zwiększyć wydajność i przerób,
- gromadzić maksymalną ilość istotnych informacji,
- podejmować uzasadnione decyzje dotyczące materiałów.
Moduł GxP umożliwia korzystanie z identyfikowalnych procesów pracy za pośrednictwem doskonale zintegrowanego sprzętu i oprogramowania mikroskopów, w celu spełnienia wymogów obowiązujących w branżach objętych regulacjami. Każdy proces pracy dostępny w oprogramowaniu ZEN core może zostać przygotowany tak, aby był zgodny z dobrymi praktykami.
Moduł GxP przydaje się:
- kierownikom ds. jakości, którzy chcą zagwarantować powtarzalne wyniki i zabezpieczone procesy,
- inżynierom, którzy chcą mieć możliwość zatwierdzenia swoich procesów mikroskopowych,
- kierownikom laboratoriów, którzy muszą dokumentować swoje procesy mikroskopowe,
- kierownikom ds. IT, którzy potrzebują funkcji tworzenia kopii bezpieczeństwa / usuwania skutków awarii oraz archiwizacji / tworzenia baz danych,
- firmom farmaceutycznym, które muszą zachować zgodność z normami, np. FDA 21 CFR część 11.