Badanie wad obejmuje:
- analizę pierwotnych przyczyn i mechanizmów uszkodzeń elementów: mechanicznych, optycznych lub elektrycznych,
- korelację / kombinację obrazów z różnych mikroskopów (LM mikroskop świetlny, EM mikroskop elektronowy, XRM mikroskop rentgenowski),
- analizę obrazów (LM, EM, XRM) oraz analizę materiałów (SEM skaningowy mikroskop elektronowy, XB mikroskop jonowy).
Mikroskopy do optycznej analizy wad
Mikroskop stereoskopowy ZEISS SteREO Discovery.V8
SteREO Discovery.V8 to model mikroskopu o zwielokrotnionym wrażeniu stereoskopii. Manualny układ zmiany powiększeń w układzie CMO (Common Main Objective) o…
Czytaj więcej
Mikroskop stereoskopowy ZEISS SteREO Discovery.V12
SteREO Discovery.V12 to zaawansowany mikroskop badawczy. Wysoka krotność zmotoryzowanego układu zmiany powiększenia zoom wraz z innowacyjnym rozwiązaniem sterowania SyCoP (System…
Czytaj więcej
Mikroskop stereoskopowy ZEISS SteREO Discovery.V20
SteREO Discovery.V20 to zautomatyzowany, oparty na optyce o najwyższej jakości, badawczy mikroskop stereoskopowy. Sterowany za pomocą zewnętrznego kontrolera dotykowego, oparty…
Czytaj więcej
- 1
- 2
- 3