Analiza czystości technicznej ma na celu:
- Określenie charakterystyki zanieczyszczeń takich jak: wielkość, kształt, długość oraz tego, czy cząstka ma charakter metaliczny, czy niemetaliczny, za pomocą mikroskopu świetlnego.
- Określenie składu chemicznego zanieczysczeń przy uzyciu mikroskopu elektronowego.
Badanie czystości technicznej jest zgodne ze standardami: ISO 16232, VDA 19.1.
ZEISS Correlative Particle Analysis
Poprzez zastosowanie mikroskopów świetlnych - ZEISS Axio Zoom.V16 lub ZEISS Axio Imager.Z2m przeprowadź analizę ilości, wielkości, kształtu i koloru cząstek. Dzięki polaryzacji sklasyfikuj cząstki metaliczne i niemetaliczne. Zidentyfikuj podejrzane cząstki i przenieś sączek do skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ZEISS. Dzięki znanej już lokalizacji interesujących Cię obiektów, możesz skupić się na analizie pierwiastków chemicznych dzięki detekcji EDS. Mikroskopia korelacyjna może być wykorzystana również przy innych aplikacjach.
Mikroskopy do analizy czystości technicznej
Mikroskop stereoskopowy ZEISS SteREO Discovery.V8
Analiza czystości technicznej zgodna z ze standardami ISO 16232, VDA 19.1, oraz ze standardami ISO 4406, ISO 4407. Dedykowany dla…
Czytaj więcej
Mikroskop cyfrowy ZEISS Axio Zoom.V16
Analiza czystości technicznej zgodna z ze standardami ISO 16232, VDA 19.1, oraz ze standardami ISO 4406, ISO 4407. Dedykowany dla…
Czytaj więcej
Mikroskop metalograficzny ZEISS Axio Imager 2
Analiza czystości technicznej zgodna z ze standardami ISO 16232, VDA 19.1, a także ze standardami ISO 4406, ISO 4407. Dedykowany…
Czytaj więcej
- 1
- 2